J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）为每种分析情况提供独特且合适的解决方案，从而使我们的客户能够进行高度创新的LIBS研究。坚固的仪器设计确保了每个激光脉冲的可重复测量结果，J200 LIBS仪器

非常适合实验室分析和生产监控应用。该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素，这款设备专为处理最苛刻的痕量元素分析而设计-那些需要高灵敏度和准确性的分析。J200 LIBS元素周期表中许

多元素的单位ppm检测限，是挑战许多样品基质中定量元素分析的理想仪器。

设备应用须知：

1、使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分；

2、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）进行氟分析；

3、使用LIBS对半导体引线框架上的薄焊料镀层进行快速铅（Pb）分析；

4、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）对钢进行定量分析；

5、使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制；

6、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）快速分析采矿样品。

J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）是ASI公司倾力打造，始于1983年是美国进口型的激光诱导击穿光谱仪，这款设备功能性比较齐全，硬件设施比较硬核，安全性能做的也比较到位，该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素，它专为处理最苛刻的痕量元素分析而设计-那些需要高灵敏度和准确性的分析，可为每种分析情况提供独特且合适的解决方案，固态锂离子电池装置深度剖面的激光诱导击穿光谱分析（LIBS）。