DiaInspect-P是一种自动颗粒分析仪，门用于磨料的等级尺寸和形状分析。

硬件：

该系统的主要部分是具有2个放大步骤的显微镜、数字控制照明和高质量的数字工业摄像机。该显微镜配有电机驱动的旋转轴和自动颗粒输送系统。进料器和旋转轴由控制程序控制。摄像机通过firewire连接到图像采集系统，从而使图像处理软件可以使用图像。

软件：

系统操作由一个易于操作的程序界面控制，该界面在普通PC机上运行。

操作原则：

粒子在旋转的平板上移动到显微镜中。分析后，将颗粒吹入收集箱。图像采集系统收集并分析每个已识别粒子的相应图像，以便能够检测到大量单个粒子。粒度为400μm时，每分钟多可分析5000个颗粒。测量完成后，将自动生成报告。

特色：

• 一键式报告生成
• 一键式数据传输至EXCEL
• 每个参数的直方图，
• 每个参数组合的散射图

技术数据：

• 电源：110-240伏交流电
• 放大倍数
• 镜头1:8.8μm（像素宽度）2889 dpi
• 镜头2:3.7μm（像素宽度）6904dpi
• 测量范围
• 粒度：230/270-8/10美国筛孔
• 处理时间：约2-3分钟（5000个颗粒的制备和测试，尺寸400μm）
• 系统要求：
• 带Windows 7或XP 32位（DE或EN）的PC
• 1x USB 2.0端口
• 1x PCI Express
• CPU-CORE : >=2
• CPU-CLOCK : >= 2.5GHZ
• 内存：>=2GB
• 监视器：>=22”（1680x1050）

计算参数：

每个粒子计算了20多个参数。

• 小feret直径
• 大feret直径
• 圆当量粒径
• 总面积
• 周长
• 凸周长
• 惯性矩
• 费雷特伸长
• 密实度
• 粗糙度
• 椭圆度
• “透明”显示区域的百分比
• “透明”显示区域的相对亮度
• CIE L*a*b系统中的颜色坐标

数据输出：

软件保存一个EXCEL文件，其中包含每个测试粒子的结果。每个产品的 个文件存储20个参数的分布曲线。

QC-功能：

测试批次的参数分布将自动与产品的公差带进行比较。

报告：

打印的报告将自动生成。